De onderzoekers hebben een manier gevonden om door te dringen tot de diepste krochten van een halfgeleider en daar informatie te voorschijn te halen over onzuiverheden.

Met de mogelijkheid om problemen in silicium te detecteren, denken de wetenschappers te kunnen uitzoeken op welke manier vervuiling de prestaties van een chip aantast.

Kennis op dit gebied kan bijdragen aan de ontwikkeling van technologie├źn waarmee de grootte van toekomstige chips verder verkleind kan worden. Om op dit niveau in de chip te kunnen kijken is gebruik gemaakt van een elektronenmicroscoop.

Volgens een verklaring van Bell Labs, het onderzoek- en ontwikkelcentrum van Lucent Technologies), is het zelfs met dit soort apparatuur nog heel erg ingewikkeld om een goed beeld te vormen. Het is net zo moeilijk als het vinden van een voetafdruk op het oppervlakte van de maan als men op aarde staat.